江阴市希瑞电子有限公司

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膜厚测试设备

  • F20薄膜厚度测量仪

    选择Filmetrics的优势
    • 桌面型薄膜厚度测量的全球领导者
    • 24小时电话,Email,在线支持
    • 直观的分析软件

    附 加 特 性
    • 嵌入式在线诊断方式
    • 免费离线分析软件
    • 精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测试结果

    免费现场演示/支持
    点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系我们,我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易!

    最具性价比的先进薄膜厚度测量系统
    使用F20高级频谱反射测量系统,我们能轻松的实现对膜层厚度和光学常数(n和k值)的测量。通过对膜层顶部、底部反射光谱进行分析,数秒内我们即可得到膜层的厚度、折射率和消光系数。
    通过内置的独立软件和USB接口,能够很容易的把F20安装在任何的 Windows电脑平台上。健全的软件材料库(100多种材料),极大的满足了对各种不同膜层结构测量的需要,包括对单层、多层或独立膜层的测量。透过测量样品的光学常数或导入已存在的资讯,能够在材料库内快速的增加新材料。

    可测样品膜层
    基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。 这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:
    氧化硅 氮化硅 类金刚石DLC
    光刻胶 聚合物 聚酰亚胺
    多晶硅 非晶硅 硅

    相关应用
    半导体制造
    • 光刻胶
    • 氧化物
    • 氮化物
    光学镀膜
    • 硬涂层
    • 抗反射涂层
    • 滤光片
    液晶显示器
    • 盒厚
    • 聚酰亚胺
    • ITO
    生物医学
    • 聚对二甲苯
    • 生物膜
    • 硝化纤维